一、產(chǎn)品概述  

體積表面電阻率測(cè)試儀是一臺(tái)專為絕緣材料電學(xué)表征設(shè)計(jì)的高精度實(shí)驗(yàn)室儀器，可在同一套系統(tǒng)內(nèi)完成“體積電阻率（ρv）"與“表面電阻率（ρs）"兩項(xiàng)核心參數(shù)的測(cè)試。主機(jī)與屏蔽箱分體式架構(gòu)，配合三級(jí)屏蔽、同心圓環(huán)-圓柱電極和 1–999 V 可編程電壓源，可將環(huán)境干擾抑制到 10 fA 級(jí)，滿足 ASTM D257、GB/T 1410、IEC 60093 等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，適用于薄膜、片材、橡膠、陶瓷、PCB、封裝材料、新能源隔膜等全形態(tài)絕緣材料的研發(fā)、質(zhì)控與認(rèn)證場(chǎng)景。

二、功能介紹  

1. 雙參數(shù)一體化  

   體積電阻率 RV：10?–101? Ω·cm  

   表面電阻率 RS：103–101? Ω/□  

   一鍵切換，無需更換電極。

2. 寬范圍可編程電壓  

   1–999 V 連續(xù)可調(diào)，步進(jìn) 1 V；內(nèi)置 5 檔安全梯度模式，防止薄膜擊穿。

3. 智能量程與保護(hù)  

   自動(dòng)識(shí)別過載，屏幕提示“1"并鎖定高壓；先歸零后升壓的硬件互鎖，保護(hù)樣品與儀器。

4. 高速采樣與定時(shí)  

   1–999 s 可設(shè)定充電-測(cè)量時(shí)間，60 s 標(biāo)準(zhǔn)模式一鍵到位；采樣率 20 Hz，實(shí)時(shí)顯示電流-電阻衰減曲線，幫助判斷極化完成點(diǎn)。

5. 數(shù)據(jù)管理  

   內(nèi)置 8 GB 存儲(chǔ)，可保存 10 萬(wàn)組帶時(shí)間戳的測(cè)試記錄；USB 與 LAN 接口，支持 CSV 直讀與 LIMS 對(duì)接。

6. 環(huán)境追蹤  

   選配溫濕度探頭，結(jié)果自動(dòng)修正到 23 °C、50 %RH 基準(zhǔn)值，便于跨實(shí)驗(yàn)室比對(duì)。

7. 安全與人機(jī)  

   屏蔽箱互鎖蓋，開蓋自動(dòng)切斷高壓；5 寸彩色觸控+實(shí)體鍵雙操作，戴手套亦可完成測(cè)試。

三、測(cè)試樣品要求  

1. 幾何尺寸  

   厚度：0.01–10 mm（超 10 mm 可定制加長(zhǎng)電極）  

   直徑/邊長(zhǎng)：≥ 50 mm，保證wan全覆蓋主電極（直徑 50 mm 圓環(huán)）  

   表面平整度：≤ 5 μm，粗糙度過高需拋光或加導(dǎo)電膏填平。

2. 表面狀態(tài)  

   無劃痕、指紋、油污；酒精擦拭后 23 °C、50 %RH 環(huán)境靜置 ≥ 4 h。  

   若測(cè)表面電阻率，不得使用含硅或蠟質(zhì)清潔劑，避免形成絕緣膜。

3. 預(yù)處理  

   吸濕性材料（PA、PET、PPS 等）需在 50 ± 2 °C 真空干燥 24 h，然后干燥皿冷卻至室溫。  

   各向異性或涂層樣品，須標(biāo)識(shí)測(cè)試面；若需測(cè)“層間體積電阻率"，應(yīng)提供雙面導(dǎo)電層或按 ASTM D257 附錄加工。

4. 電極接觸  

   體積電阻率：上電極（圓環(huán)）與下電極（圓柱）必須同心，偏心 ≤ 0.2 mm；使用儀器標(biāo)配 60 g 彈簧夾保證恒定壓力。  

   表面電阻率：保護(hù)間隙 2 mm 內(nèi)不得有灰塵，防止表面爬電。

5. 測(cè)試環(huán)境  

   標(biāo)準(zhǔn)條件 23 ± 2℃、50 ± 5 %RH；若在高濕或高溫下評(píng)估，需記錄實(shí)際條件并在報(bào)告中注明“非標(biāo)準(zhǔn)態(tài)"。